朔州丝熔断测试仪150A-0.1ms使用方法智能丝测试仪是一款用于小型熔断器性能测试的用仪器,用于管熔断时间、熔断电流的检测,满足标准G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相关标准中的熔断、耐久性试验要求。本仪器采用7寸显示触摸屏显示和参数设置,采用ARM控制器进行控制采集,试验电流高达200A的试验设备。具有操作简便,智能可靠等特点。
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项目 |
要求及指标 |
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输入电压范围 |
220V±10﹪,50Hz/60Hz |
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测试电流范围 |
0.5~150A,1﹪RD±0.2﹪fs |
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测试开路电压精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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试验模式 |
熔断时间测试 M1和耐久性测试M2 |
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测试时间范围
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M1 模式时间范围:10mS--60分钟 M2 模式时间范围:10mS--100小时 |
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耐久性时间设置 |
0~99H59M |
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次数设置 |
0~9999次 |
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时间分辨率 |
10ms |
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测试电流步 |
50mA~1A,可设置 |
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测试电流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA(‘SET’为设置数值), M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA(‘SET’为设置数值) |
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测试时间精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值), M2 模式<±10mS+0.5﹪RD(‘RD’为实际工作时间数值) |
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显示方式 |
7 寸触摸屏显示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盘拷贝试验数据、数据保存功能,免费开放通信接口及提供底层通信协议 |



工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后,对设计进行更改,很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行的验证。借助扫描系统,电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题,从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。EMI近场辐射特性:SSCG示例某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。对移动互联网带来的资源消耗需求是“疏”而不是“堵”,解决的思路之一是在空口对业务加以识别和支持。这样的需求对监测仪表的发展提出了新的要求,要求空口测试仪表能识别、分析业务,并与底层信令和物理层过程进行关联分析,以共同应对移动互联网的挑战。第二,从测试方式来看,测试数据采集自动化程度还不够高,仍有大量的数据采集通过人力来完成,工作效率有较大提升空间。数据自动化分析水平、智能分析功能及管理能力各地区发展参差不齐,东部沿海发达省份水平较高,中西部区域则有待提升。
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