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两类方法适用于不同类型的风口，测量方法选择不当是造成结果差异大的可能原因。直接法测量，顾名思义，即通过风量罩直接测得风量值。适用性较广，尤其是出风口气流分布不均匀（散流、旋流等）的场合。但须注意风量罩对适合测量的风口有尺寸限制（风口尺寸较风量罩尺寸不可过大或过小）。间接法测量，通过风速仪测得风速值，再通过计算得出风量值。间接法测量对出风口气流分布要求较严格（即气流分布尽量均匀）。在风口气流分布较均匀的场合，直接法与间接法测量结果大致接近。两个常见的传统方法为1.与色散光的物理扫面组合在一起的单个元件（或单点）探测器，以及2.将色散光成像于一个探测器阵列上。在种方法中，来自光栅的色散光被聚焦在单个探测器上。为了分析多个波长上的功率，光栅（通常情况下如此）或者聚焦元件必须适当地旋转，以便将来自每个波长的光调节到探测器上。要执行扫描，与探测器相关的电子元器件必须与光栅的运动同步，这样的话，测得的功率就与正确的波长相一致。这就要求机械旋转系统非常，并因此在体积方面变得十分庞大，而这也限制了这个方法在实验室之外的实用性。
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