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如果将“L”和“E”接反了，流过缘体内及表面的漏电流经外壳汇集到地，由地经“L”流进测量线圈，使“G”失去作用而给测量带来很大误差。另外，因为“E”端内部引线同外壳的缘程度比“L”端与外壳的缘程度要低，当兆欧表放在地上使用时，采用正确接线方式时，“E”端对仪表外壳和外壳对地的缘电阻，相当于短路，不会造成误差，而当“L”与“E”接反时，“E”对地的缘电阻同被测缘电阻并联，而使测量结果偏小，给测量带来较大误差。在这种情况下，验证PA是否会导致发射器超出此限制需要工程师在1MHz带宽下测量不同谐波频率下的辐射。实际上，工程师们采用了一系列方法来确保PA不会违反杂散辐射要求。在研发或特性分析实验室中，工程师通常会使用频谱信号分析仪或是矢量信号分析仪直接测量杂散辐射。然而，在制造环境中，由于测试时间至关重要，工程师通常直接测量谐波功率并使用统计相关性来预测PA是否违反杂散辐射要求。测量调制信号的谐波需要仔细注意测量带宽，因为谐波所需的测量带宽因不同阶次的谐波而异。
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